Une fine tranche de matériau semi-conducteur est appelée plaquette, qui est constituée d'un matériau monocristallin très pur. Dans le procédé Czochralski, un lingot cylindrique d'un semi-conducteur monocristallin très pur est fabriqué en extrayant un germe cristallin d'une masse fondue.
Le carbure de silicium (SiC) et ses polytypes font partie de la civilisation humaine depuis longtemps ; l'intérêt technique de ce composé dur et stable a été réalisé en 1885 et 1892 par Cowless et Acheson à des fins de broyage et de découpe, conduisant à sa fabrication à grande échelle.
D'excellentes propriétés physiques et chimiques font du carbure de silicium (SiC) un candidat de premier plan pour une variété d'applications, y compris les dispositifs optoélectroniques à haute température, haute puissance et haute fréquence, un composant structurel dans les réacteurs de fusion, le matériau de revêtement pour les réacteurs à refroidissement par gaz réacteurs à fission, et une matrice inerte pour la transmutation du Pu. Différents poly-types de SiC tels que 3C, 6H et 4H ont été largement utilisés. L'implantation ionique est une technique essentielle pour introduire sélectivement des dopants pour la production de dispositifs à base de Si, pour fabriquer des tranches de SiC de type p et de type n.
Le lingotest ensuite tranché pour former des tranches de carbure de silicium SiC.
Propriétés du matériau en carbure de silicium
Polytype |
Monocristal 4H |
Structure en cristal |
Hexagonal |
Bande interdite |
3,23 eV |
Conductivité thermique (type n; 0,020 ohm-cm) |
a~4.2 W/cm ⢠K @ 298 K c~3.7 W/cm ⢠K @ 298 K |
Conductivité thermique (HPSI) |
a~4.9 W/cm ⢠K @ 298 K c~3.9 W/cm ⢠K @ 298 K |
Paramètres de réseau |
a=3,076 Å c=10,053 Å |
Dureté de Mohs |
~9.2 |
Densité |
3,21 g/cm3 |
Thermie. Coefficient de dilatation |
4-5 x 10-6/K |
Différents types de plaquettes de SiC
Il existe trois types :plaquette sic de type n, plaquette sic de type pettranche de sic semi-isolante de haute pureté. Le dopage fait référence à l'implantation d'ions qui introduit des impuretés dans un cristal de silicium. Ces dopants permettent aux atomes du cristal de former des liaisons ioniques, rendant le cristal autrefois intrinsèque extrinsèque. Ce procédé introduit deux types d'impuretés ; Type N et type P. Le "type" qu'il devient dépend des matériaux utilisés pour créer la réaction chimique. La différence entre les tranches de SiC de type N et de type P est le matériau principal utilisé pour créer la réaction chimique lors du dopage. Selon le matériau utilisé, l'orbitale externe aura cinq ou trois électrons, soit un chargé négativement (type N) et un chargé positivement (type P).
Les tranches de SiC de type N sont principalement utilisées dans les véhicules à énergies nouvelles, les transmissions et sous-stations haute tension, les appareils électroménagers, les trains à grande vitesse, les moteurs, les onduleurs photovoltaïques, les alimentations à impulsions, etc. Elles présentent les avantages de réduire les pertes d'énergie des équipements, d'améliorer la fiabilité des équipements, la réduction de la taille des équipements et l'amélioration des performances des équipements, et présentent des avantages irremplaçables dans la fabrication de dispositifs électroniques de puissance.
La tranche de SiC semi-isolante de haute pureté est principalement utilisée comme substrat de dispositifs RF haute puissance.
Epitaxie - Dépôt de nitrure III-V
Couches épitaxiales SiC, GaN, AlxGa1-xN et InyGa1-yN sur substrat SiC ou substrat saphir.
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