Semicorex propose différents types de plaquettes SiC 4H et 6H. Nous sommes fabricant et fournisseur de produits en carbure de silicium depuis de nombreuses années. Notre plaquette SiC HPSI semi-isolante de 6 pouces à double polissage présente un bon avantage en termes de prix et couvre la plupart des marchés européens et américains. Nous sommes impatients de devenir votre partenaire à long terme en Chine.
Semicorex propose une gamme complète de produits de plaquettes de carbure de silicium (SiC), comprenant des substrats 4H et 6H avec des plaquettes semi-isolantes de type N, de type P et de haute pureté, elles peuvent être avec ou sans épitaxie.
Le diamètre de 6 pouces de notre plaquette SiC HPSI semi-isolante de 6 pouces offre une grande surface pour la fabrication de dispositifs électroniques de puissance tels que les MOSFET, les diodes Schottky et d'autres applications haute tension. La plaquette SiC HPSI semi-isolante de 6 pouces est principalement utilisée dans les communications 5G, les systèmes radar, les têtes de guidage, les communications par satellite, les avions de guerre et d'autres domaines, avec les avantages d'améliorer la gamme RF, l'identification ultra longue portée, l'anti-brouillage et la haute Les applications de transfert d'informations à haute vitesse et à haute capacité sont considérées comme le substrat le plus idéal pour la fabrication de dispositifs de puissance micro-ondes.
Caractéristiques:
â Diamètre : 6â³
âDouble-poli
â Niveau : Production, Recherche, Factice
â Plaquette HPSI 4H-SiC
â Épaisseur : 500±25 μm
â Micropipe Densité : â¤1 ea/cm2~ â¤15 ch/cm2
Articles |
Production |
Recherche |
Factice |
Paramètres de cristal |
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Polytype |
4H |
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Orientation de la surface sur l'axe |
<0001> |
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Orientation de la surface hors axe |
0±0.2° |
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(0004)FWHM |
â¤45arcsec |
â¤60arcsec |
â¤1OOarcsec |
Paramètres électriques |
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Taper |
HPSI |
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Résistivité |
â¥1 E8ohm·cm |
100% surface > 1 E5ohm·cm |
70% surface > 1 E5ohm·cm |
Paramètres mécaniques |
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Diamètre |
150±0,2 millimètres |
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Épaisseur |
500±25 μm |
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Orientation plate principale |
[1-100]±5° ou encoche |
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Longueur/profondeur du plat primaire |
47.5±1.5mm ou 1 - 1.25mm |
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TTV |
â¤5 μm |
â¤10 μm |
â¤15 μm |
LTV |
â¤3 μm(5mm*5mm) |
â¤5 μm(5mm*5mm) |
â¤10 μm(5mm*5mm) |
Arc |
-15μm ~ 15μm |
-35μm ~ 35μm |
-45μm ~ 45μm |
Chaîne |
â¤35 μm |
â¤45 μm |
â¤55 μm |
Rugosité avant (Si-face) (AFM) |
Raâ¤0.2nm (5μm*5μm) |
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Structure |
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Densité de microtuyaux |
â¤1 ch/cm2 |
â¤10 ch/cm2 |
â¤15 ch/cm2 |
Densité d'inclusion de carbone |
â¤1 ch/cm2 |
N / A |
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Vide hexagonal |
Aucun |
N / A |
|
Impuretés métalliques |
â¤5E12atomes/cm2 |
N / A |
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Qualité avant |
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Devant |
Si |
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Finition de surface |
Si-face CMP |
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Particules |
â¤60ea/wafer (tailleâ¥0.3μm) |
N / A |
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Rayures |
â¤5ea/mm. Longueur cumulée â¤Diamètre |
Longueur cumuléeâ¤300mm |
N / A |
Peau d'orange/piqûres/taches/stries/fissures/contamination |
Aucun |
N / A |
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Puces de bord/retraits/fracture/plaques hexagonales |
Aucun |
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Zones polytypiques |
Aucun |
Superficie cumuléeâ¤20% |
Superficie cumuléeâ¤30% |
Marquage laser avant |
Aucun |
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Retour Qualité |
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Finition arrière |
CMP face C |
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Rayures |
â¤5ea/mm, longueur cumuléeâ¤2*Diamètre |
N / A |
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Défauts au dos (éclats de bord/indentations) |
Aucun |
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Rugosité du dos |
Raâ¤0.2nm (5μm*5μm) |
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Marquage laser arrière |
"SEMI" |
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Bord |
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Bord |
Chanfreiner |
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Emballage |
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Emballage |
Epi-ready avec emballage sous vide Emballage de cassette multi-wafers |
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*Remarquesï¼ "NA" signifie aucune demande Les éléments non mentionnés peuvent faire référence à SEMI-STD. |